Apparat und Verfahren zur Oberflächenkonturmessung
EP1247070
Art B1
17. Oktober 2007
Anmelder: Massachusetts Institute of Technology Incorporated 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1247070
- Aktenzeichen
- EP01901698
- Anmeldetag
- 3. Januar 2001
- Veröffentlichung
- 17. Oktober 2007
- Erteilung
- 17. Oktober 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/24G01B11/00G01B9/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Massachusetts Institute of Technology Incorporated
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Massachusetts Institute of Technology
US-amerikanische Universität mit Sitz in Cambridge, Massachusetts, eine der weltweit führenden Forschungseinrichtungen. Aktiv in nahezu allen technischen und naturwissenschaftlichen Feldern, darunter Informatik, Ingenieurwesen, Materialwissenschaften und Biotechnologie.
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Fachgebiete
Vertreten von
Greenwood, John David
Sevenoaks, Großbritannien
858
Patente gesamt
32
Fachgebiete
15
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Cookson, Barbara Elizabeth
Filemot Technology Law Ltd · London