Wafer-Haltevorrichtung

EP1253633 Art B1 17. November 2010

Anmelder: Kabushiki Kaisha TOPCON, KABUSHIKI KAISHA TOPCON 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1253633
Aktenzeichen: EP02008619
Anmeldetag: 17. April 2002
Veröffentlichung: 17. November 2010
Erteilung: 17. November 2010
Rechtsraum: EP
IPC: H01L21/68H01L21/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Kabushiki Kaisha TOPCON
KABUSHIKI KAISHA TOPCON
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kabushiki Kaisha Topcon

Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.

599 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Vertreten von