Teilchenstrahl-Raster-Spiegelmikroskop
EP1255278
Art B1
15. Juni 2005
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION, Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1255278
- Aktenzeichen
- EP01109943
- Anmeldetag
- 24. April 2001
- Veröffentlichung
- 15. Juni 2005
- Erteilung
- 15. Juni 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/29
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- ADVANTEST CORPORATION
Advantest Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
Vertreten von
Tetzner, Thomas
München, Deutschland
5
Patente gesamt
5
Fachgebiete
3
Anmelder-Länder
Schwerpunkte