Gerät zur Kontrolle der Richtkarakteristik

EP1257000 Art B1 7. März 2007

Anmelder: NEC Corporation, NEC CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1257000
Aktenzeichen: EP02010461
Anmeldetag: 8. Mai 2002
Veröffentlichung: 7. März 2007
Erteilung: 7. März 2007
Rechtsraum: EP
IPC: H01Q3/26H04B7/06H04B7/26H04Q7/34H04Q7/36

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: NEC Corporation
NEC CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Nachrichtentechnik & Telekommunikation

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