Verbesserte Linse für Mikroskopische Untersuchung

EP1261890 Art B1 16. Juli 2008

Anmelder: KLA-Tencor Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1261890
Aktenzeichen
EP01918472
Anmeldetag
9. März 2001
Veröffentlichung
16. Juli 2008
Erteilung
16. Juli 2008
Rechtsraum
EP
IPC
G02B15/14G02B17/00G02B21/02G02B25/00G02B17/08G01N21/956
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
KLA-Tencor Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 KLA Corporation

US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.

495 Patente in unserer Datenbank

Kanzlei
Urquhart-Dykes & Lord LLP

Britische Traditionskanzlei, deren Wurzeln in zwei Londoner und Leedser Patentagenturen der 1870er-Jahre liegen, 1946 zusammengeführt. Seit 2021 Teil der schottischen Kanzlei Murgitroyd, deckt Patente, Marken und Designs bis zur Litigation ab.

4.055
Patente gesamt
7
Patentanwälte
4
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