Verfahren zur Entfernungsmessung ausgedehnter Objekte in Verbindung mit einer optischen Betrachtungseinrichtung und Mikroskop zur Durchführung desselben
EP1262810
Art A3
8. Januar 2003
Anmelder: Leica Microsystems (Schweiz) AG, Leica Microsystems AG 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1262810
- Aktenzeichen
- EP02011904
- Anmeldetag
- 29. Mai 2002
- Veröffentlichung
- 8. Januar 2003
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00G01S17/46G02B21/22G02B7/28G01B11/02A61B19/00A61B1/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Leica Microsystems (Schweiz) AG
Leica Microsystems AG - Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
949 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Rosenich, Paul
Triesenberg, Liechtenstein
217
Patente gesamt
27
Fachgebiete
10
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Reichert, Werner F., Dr
NoneWetzlar