Methoden und Systeme zur Erzeugung einer Struktur mit Reflektierten Interferenzmustern
EP1264220
Art A2
11. Dezember 2002
Anmelder: Semiconductor Research Corporation, UNIVERSITY OF TENNESSEE RESEARCH FOUNDATION, University of Tennessee Research Foundation, THE UNIVERSITY OF TENNESSEE RESEARCH CORPORATION 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1264220
- Aktenzeichen
- EP01912902
- Anmeldetag
- 22. Februar 2001
- Veröffentlichung
- 11. Dezember 2002
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G03H5/00G03F7/20H01J37/317
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Semiconductor Research Corporation
UNIVERSITY OF TENNESSEE RESEARCH FOUNDATION
University of Tennessee Research Foundation
THE UNIVERSITY OF TENNESSEE RESEARCH CORPORATION - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
University of Tennessee Research Foundation
Die University of Tennessee Research Foundation verwaltet die Patente und Ausgründungen der University of Tennessee (USA) und meldet seit rund zwei Jahrzehnten kontinuierlich Schutzrechte an. Der Schwerpunkt liegt auf Medizintechnik, organischer Chemie sowie Pharma und Biotechnologie, ergänzt durch Mess- und Prüftechnik sowie Landwirtschaftstechnik. Die Anmeldungen reichen von 2000 bis in die Gegenwart.
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Vertreten von
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