Vorrichtung und Verfahren zur auf Spektrumanalyse basierender Messung des Jitters serieller Daten
EP1267172
Art B1
2. November 2006
Anmelder: TEKTRONIX, INC., Tektronix, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1267172
- Aktenzeichen
- EP02253938
- Anmeldetag
- 6. Juni 2002
- Veröffentlichung
- 2. November 2006
- Erteilung
- 2. November 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R29/26G01R23/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- TEKTRONIX, INC.
Tektronix, Inc. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
498 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Burke, Steven David
London, Großbritannien
453
Patente gesamt
25
Fachgebiete
10
Anmelder-Länder
Schwerpunkte