Dickenmessung mit einem Rasterkraftmikroskop
EP1269112
Art B1
9. Juni 2004
Anmelder: ADVANCED MICRO DEVICES, INC., ADVANCED MICRO DEVICES INC. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1269112
- Aktenzeichen
- EP01912979
- Anmeldetag
- 21. Februar 2001
- Veröffentlichung
- 9. Juni 2004
- Erteilung
- 9. Juni 2004
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B7/34G01B21/08H01L21/66G01B21/18G01N27/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- ADVANCED MICRO DEVICES, INC.
ADVANCED MICRO DEVICES INC. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Advanced Micro Devices
US-amerikanischer Halbleiterhersteller (AMD) mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien, bekannt für Prozessoren, Grafikchips und Server-CPUs.
1.708 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Picker, Madeline Margaret
London, Großbritannien
951
Patente gesamt
26
Fachgebiete
12
Anmelder-Länder
Schwerpunkte