Plasmabearbeitungsvorrichtung mit Integriertem Vollwellenlängen-Spektrometer für Waferbearbeitung
EP1269165
Art B1
1. Juni 2011
Anmelder: LAM RESEARCH CORPORATION 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1269165
- Aktenzeichen
- EP01926386
- Anmeldetag
- 16. März 2001
- Veröffentlichung
- 1. Juni 2011
- Erteilung
- 1. Juni 2011
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/20H01J37/32
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- LAM RESEARCH CORPORATION
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Lam Research
US-amerikanischer Hersteller von Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie mit Sitz in Fremont, Kalifornien, spezialisiert auf Ätz- und Beschichtungssysteme (Deposition) für die Chipproduktion.
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Vertreten von
Browne, Robin Forsythe
Leeds, Großbritannien
1.734
Patente gesamt
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Fachgebiete
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