Methode zur Evaluierung der Abhängigkeit von Halbleitersubstrat-Eigenschaften von der Kristallorientierung und Halbleiter damit
EP1271642
Art A3
21. September 2005
Anmelder: Sharp Kabushiki Kaisha, Masuoka, Fujio 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1271642
- Aktenzeichen
- EP02254340
- Anmeldetag
- 21. Juni 2002
- Veröffentlichung
- 21. September 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Sharp Kabushiki Kaisha
Masuoka, Fujio - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Sharp
Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.
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