Scanmikroskop und Verfahren zur wellenlängenabhängigen Detektion
EP1273951
Art B1
21. Dezember 2005
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH, Leica Microsystems Heidelberg GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1273951
- Aktenzeichen
- EP02100762
- Anmeldetag
- 28. Juni 2002
- Veröffentlichung
- 21. Dezember 2005
- Erteilung
- 21. Dezember 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00G01F3/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Leica Microsystems CMS GmbH
Leica Microsystems Heidelberg GmbH - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Reichert, Werner Franz
Wetzlar, Deutschland
423
Patente gesamt
31
Fachgebiete
18
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Reichert, Werner F., Dr
NoneWetzlar