Methode, die Haftung einer Deckschicht auf einem Porösen Material zu Verbessern

EP1275140 Art A2 15. Januar 2003

Anmelder: NXP B.V., Philips Semiconductor, Inc., Koninklijke Philips Electronics N.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1275140
Aktenzeichen
EP01918837
Anmeldetag
20. März 2001
Veröffentlichung
15. Januar 2003
Rechtsraum
EP
IPC
H01L21/316H01L21/768
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen
NXP B.V.
Philips Semiconductor, Inc.
Koninklijke Philips Electronics N.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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