Methode und Vorrichtung zur Messung Kritischer Dimensionen mit Rückkopplungsätzkontrolle
EP1275144
Art A1
15. Januar 2003
Anmelder: ADVANCED MICRO DEVICES, INC., ADVANCED MICRO DEVICES INC. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1275144
- Aktenzeichen
- EP01902094
- Anmeldetag
- 16. Januar 2001
- Veröffentlichung
- 15. Januar 2003
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- ADVANCED MICRO DEVICES, INC.
ADVANCED MICRO DEVICES INC. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Advanced Micro Devices
US-amerikanischer Halbleiterhersteller (AMD) mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien, bekannt für Prozessoren, Grafikchips und Server-CPUs.
1.708 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Eve, Rosemary Margaret
Tunbridge Wells, Großbritannien
292
Patente gesamt
26
Fachgebiete
12
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Picker, Madeline Margaret
NoneLondon