Vorrichtung und Verfahren zur Erfassung der Zuverlässigkeit von integrierten Halbleiterbauelementen bei hohen Temperaturen
EP1279966
Art B1
20. April 2005
Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1279966
- Aktenzeichen
- EP02014934
- Anmeldetag
- 8. Juli 2002
- Veröffentlichung
- 20. April 2005
- Erteilung
- 20. April 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/3173G01R31/316
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Infineon Technologies AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Infineon Technologies
Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.
4.937 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kindermann, Peter
Baldham, Deutschland
362
Patente gesamt
27
Fachgebiete
14
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Kindermann, Peter, Dipl.-Ing
NoneGrasbrunn