Verfahren zur Analyse von Merkmalekarten
EP1298572
Art A3
27. September 2006
Anmelder: RIKEN 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1298572
- Aktenzeichen
- EP02021774
- Anmeldetag
- 26. September 2002
- Veröffentlichung
- 27. September 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F19/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- RIKEN
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
RIKEN
Japanische staatliche Forschungseinrichtung mit Sitz in Wako bei Tokio, aktiv in Physik, Chemie, Biologie und Ingenieurwissenschaften mit zahlreichen Forschungszentren.
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Fachgebiete
Vertreten von
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polypatent
polypatent · Bergisch Gladbach
-
Sternagel, Fleischer, Godemeyer & Partner Patentanwälte
Sternagel, Fleischer, Godemeyer & Partner Patentanwälte · Bergisch Gladbach