Verfahren und Vorrichtung zum Kontrollieren der Gleichmässigkeit von Halbleiterscheiben in einem Chemisch-Mechanischen Polierwerkzeug unter Verwendung von Trägerplattenkennzeichen
EP1307909
Art B1
13. Dezember 2006
Anmelder: ADVANCED MICRO DEVICES, INC., ADVANCED MICRO DEVICES INC. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1307909
- Aktenzeichen
- EP01950837
- Anmeldetag
- 3. Juli 2001
- Veröffentlichung
- 13. Dezember 2006
- Erteilung
- 13. Dezember 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/60
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- ADVANCED MICRO DEVICES, INC.
ADVANCED MICRO DEVICES INC. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Advanced Micro Devices
US-amerikanischer Halbleiterhersteller (AMD) mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien, bekannt für Prozessoren, Grafikchips und Server-CPUs.
1.708 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Sanders, Peter Colin Christopher
London, Großbritannien
77
Patente gesamt
13
Fachgebiete
4
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Schwerpunkte