Ladungsdetektor-Halbleiterbauelement, System aus einem Ladungsdetektor-Halbleiterbauelement und einem Referenz-Halbleiterbauelement, Wafer, Verwendung eines Wafers und Verfahren zur qualitativen Messung einer Aufladung eines Wafers
EP1308997
Art A3
22. März 2006
Anmelder: NXP B.V., Philips Intellectual Property & Standards GmbH, Koninklijke Philips Electronics N.V., Philips Corporate Intellectual Property GmbH 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1308997
- Aktenzeichen
- EP02102534
- Anmeldetag
- 5. November 2002
- Veröffentlichung
- 22. März 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- NXP B.V.
Philips Intellectual Property & Standards GmbH
Koninklijke Philips Electronics N.V.
Philips Corporate Intellectual Property GmbH - Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
7.818 Patente in unserer Datenbank
🇳🇱
Philips
Niederländisches Technologieunternehmen mit Sitz in Amsterdam, spezialisiert auf Medizintechnik, Diagnosegeräte, Patientenüberwachung sowie Gesundheits- und Wellnessprodukte.
43.499 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Schouten, Marcus Maria
Eindhoven, Niederlande
3.201
Patente gesamt
30
Fachgebiete
16
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Röggla, Harald
NoneWien
-
Volmer, Georg
NoneAachen