Vorrichtung zur Fixmusterdetektion und Verfahren zur Fixmusterdetektion
EP1313229
Art B1
22. März 2006
Anmelder: NEC Corporation, NEC CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1313229
- Aktenzeichen
- EP02025708
- Anmeldetag
- 15. November 2002
- Veröffentlichung
- 22. März 2006
- Erteilung
- 22. März 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04B1/707
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- NEC Corporation
NEC CORPORATION - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NEC
Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
Glawe, Delfs, Moll
Glawe Delfs Moll · Hamburg