Methode zur Prüfung einer gekrümmten Oberfläche und Vorrichtung zur Prüfung einer Leiterplatte
EP1314974
Art B1
2. Februar 2005
Anmelder: OMRON CORPORATION, Omron Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1314974
- Aktenzeichen
- EP02026108
- Anmeldetag
- 22. November 2002
- Veröffentlichung
- 2. Februar 2005
- Erteilung
- 2. Februar 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/88G01N21/956G01R31/309
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- OMRON CORPORATION
Omron Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Omron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.
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Vertreten von
Kilian, Helmut
München, Deutschland
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