Scanmikroskop, Verfahren zur Scanmikroskopie und Bandpassfilter
EP1315012
Art B1
29. November 2006
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH, Leica Microsystems Heidelberg GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1315012
- Aktenzeichen
- EP02102510
- Anmeldetag
- 30. Oktober 2002
- Veröffentlichung
- 29. November 2006
- Erteilung
- 29. November 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00G01J3/04
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Leica Microsystems CMS GmbH
Leica Microsystems Heidelberg GmbH - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
770 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Reichert, Werner Franz
Wetzlar, Deutschland
423
Patente gesamt
31
Fachgebiete
18
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Reichert, Werner F., Dr
NoneWetzlar