Prüfung von integrierten Schaltungen auf Waferebene

EP1328016 Art A3 4. Februar 2004

Anmelder: NEC Electronics Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1328016
Aktenzeichen: EP03000272
Anmeldetag: 8. Januar 2003
Veröffentlichung: 4. Februar 2004
Rechtsraum: EP
IPC: H01L21/66G01R31/3185G01R31/316

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NEC Electronics Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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