Vorrichtung zum Prüfen von Mustern
EP1329710
Art A2
23. Juli 2003
Anmelder: NEC Electronics Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1329710
- Aktenzeichen
- EP03001050
- Anmeldetag
- 17. Januar 2003
- Veröffentlichung
- 23. Juli 2003
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/956
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NEC Electronics Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NEC
Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.
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