Vorrichtung und Verfahren zum Bestimmen der Kontrast-Empfindlichkeit
EP1330979
Art B1
12. März 2008
Anmelder: TOPCON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1330979
- Aktenzeichen
- EP03250074
- Anmeldetag
- 7. Januar 2003
- Veröffentlichung
- 12. März 2008
- Erteilung
- 12. März 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- A61B3/06A61B3/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TOPCON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Topcon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.
489 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Jacob, Reuben Ellis
London, Großbritannien
1.272
Patente gesamt
34
Fachgebiete
35
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Milhench, Howard Leslie
NoneLondon