Halbleiterspeicherbaustein, Prüfverfahren dafür und Prüfschaltung

EP1331642 Art A1 30. Juli 2003

Anmelder: NEC Electronics Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1331642
Aktenzeichen: EP01961212
Anmeldetag: 30. August 2001
Veröffentlichung: 30. Juli 2003
Rechtsraum: EP
IPC: G11C11/401G11C29/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NEC Electronics Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

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Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung

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