Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen der Oberfläche von Substraten
EP1333275
Art B1
27. August 2008
Anmelder: OMRON Corporation, OMRON Corporation, a corporation of Japan, Omron Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1333275
- Aktenzeichen
- EP02028989
- Anmeldetag
- 27. Dezember 2002
- Veröffentlichung
- 27. August 2008
- Erteilung
- 27. August 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/88G01N21/956
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- OMRON Corporation
OMRON Corporation, a corporation of Japan
Omron Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Omron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.
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Vertreten von
Kilian, Helmut
München, Deutschland
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