Autofokusmodul mit Zusatzlichtquellen für mikroskopbasierte Systeme und Zweistrahl-Fokusdetektionsverfahren unter Benutzung des Moduls
EP1333304
Art B1
16. März 2005
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH, Leica Microsystems Semiconductor GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1333304
- Aktenzeichen
- EP03100111
- Anmeldetag
- 21. Januar 2003
- Veröffentlichung
- 16. März 2005
- Erteilung
- 16. März 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B7/28G02B21/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Leica Microsystems CMS GmbH
Leica Microsystems Semiconductor GmbH - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Reichert, Werner Franz
Wetzlar, Deutschland
423
Patente gesamt
31
Fachgebiete
18
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Reichert, Werner F., Dr
NoneWetzlar