Verfahren zur Lokalisierung von Defekten in einer Teststruktur
EP1334370
Art B1
30. März 2005
Anmelder: Xilinx, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1334370
- Aktenzeichen
- EP01983152
- Anmeldetag
- 16. Oktober 2001
- Veröffentlichung
- 30. März 2005
- Erteilung
- 30. März 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/28H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Xilinx, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Xilinx, Inc.
Xilinx, Inc. ist ein US-amerikanischer Hersteller programmierbarer Logikbausteine (FPGAs), seit 2022 Teil von AMD, mit Patenten im Bereich Halbleitertechnik und Chipdesign.
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Vertreten von
Naismith, Robert Stewart
Glasgow, Großbritannien
916
Patente gesamt
32
Fachgebiete
21
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