Methode und Vorrichtung zum Testen von Hochgeschwindigkeits-Verbindungsschaltungen
EP1335210
Art B1
22. November 2006
Anmelder: Texas Instruments Incorporated, TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1335210
- Aktenzeichen
- EP03100257
- Anmeldetag
- 7. Februar 2003
- Veröffentlichung
- 22. November 2006
- Erteilung
- 22. November 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/3185
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Texas Instruments Incorporated
TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Texas Instruments
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.
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Vertreten von
Holt, Michael
Northampton, Großbritannien
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