Modellauge für ein Messinstrument von Augeneigenschaften und Kalibrierungsmethode
EP1336371
Art B1
7. Dezember 2005
Anmelder: Kabushiki Kaisha TOPCON 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1336371
- Aktenzeichen
- EP03090041
- Anmeldetag
- 14. Februar 2003
- Veröffentlichung
- 7. Dezember 2005
- Erteilung
- 7. Dezember 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- A61B3/00G09B23/28G09B23/30
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Kabushiki Kaisha TOPCON
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Kabushiki Kaisha Topcon
Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.
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Vertreten von
Hengelhaupt, Jürgen
Berlin, Deutschland
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