Verfahren zum Chrakterisieren von Proben von Sekundärlicht Emittierenden Partikeln
EP1344043
Art B1
30. Juli 2008
Anmelder: Evotec AG, Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V., Evotec OAI AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1344043
- Aktenzeichen
- EP01986914
- Anmeldetag
- 20. Dezember 2001
- Veröffentlichung
- 30. Juli 2008
- Erteilung
- 30. Juli 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N15/14
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Evotec AG
Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V.
Evotec OAI AG - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Max-Planck-Gesellschaft
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