Steuermethode für Dünnfilmtransistor mit isoliertem Gate

EP1353386 Art B1 7. Februar 2018

Anmelder: ABLIC Inc., Hayashi, Yutaka, SII Semiconductor Corporation, Seiko Instruments Inc. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1353386
Aktenzeichen
EP03252252
Anmeldetag
9. April 2003
Veröffentlichung
7. Februar 2018
Erteilung
7. Februar 2018
Rechtsraum
EP
IPC
H01L29/786H01L27/12
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen
ABLIC Inc.
Hayashi, Yutaka
SII Semiconductor Corporation
Seiko Instruments Inc.
Land
🇯🇵 Japan

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Vertreten von
Sturt, Clifford Mark London, Großbritannien
883
Patente gesamt
28
Fachgebiete
7
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung Nachrichtentechnik & Telekommunikation Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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