Verfahren zur Bestimmung der Kernlagen einer Matrix von optischen Elementen sowie Vorrichtung zur deren Kernlagebestimmung
EP1355125
Art A3
23. Mai 2007
Anmelder: NGK Insulators, Ltd., NGK INSULATORS, LTD. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1355125
- Aktenzeichen
- EP03251972
- Anmeldetag
- 28. März 2003
- Veröffentlichung
- 23. Mai 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B6/42// G02B6/38
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- NGK Insulators, Ltd.
NGK INSULATORS, LTD. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NGK Insulators
Japanisches Industrieunternehmen mit Sitz in Nagoya. NGK Insulators fertigt Keramikprodukte, darunter Isolatoren, Abgaskatalysatorträger, Sensoren und Energiespeichersysteme für Energieversorgung, Automobil und Industrie.
3.021 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Naylor, Matthew John
London, Großbritannien
1.221
Patente gesamt
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Fachgebiete
13
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Paget, Hugh Charles Edward
NoneLondon