Vorrichtung zur Ermittlung des Einfallwinkels einer Strahlung auf eine Strahlungseinfallfläche

EP1357393 Art B1 2. Oktober 2013

Anmelder: ELMOS Semiconductor AG 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1357393
Aktenzeichen
EP03009110
Anmeldetag
19. April 2003
Veröffentlichung
2. Oktober 2013
Erteilung
2. Oktober 2013
Rechtsraum
EP
IPC
G01S3/783// G01S3/784
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ELMOS Semiconductor AG
Land
🇩🇪 Deutschland

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Hilleringmann, Jochen, Dipl.-Ing Köln, Deutschland
320
Patente gesamt
27
Fachgebiete
7
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Fahrzeugtechnik (Automobil, Bahn & Schiff) Halbleiter & Elektrische Bauelemente Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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