Methode zum Testen eines elektronischen Bauteils
EP1361450
Art B1
29. Dezember 2004
Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1361450
- Aktenzeichen
- EP02010478
- Anmeldetag
- 8. Mai 2002
- Veröffentlichung
- 29. Dezember 2004
- Erteilung
- 29. Dezember 2004
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/30G11C29/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Infineon Technologies AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Infineon Technologies
Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.
4.937 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Schweiger, Martin
München, Deutschland
473
Patente gesamt
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Fachgebiete
25
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