Elektromigrations-Teststruktur zur Erfassung einer Zuverlässigkeit von Verdrahtungen
EP1362372
Art A2
19. November 2003
Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1362372
- Aktenzeichen
- EP01995590
- Anmeldetag
- 7. Dezember 2001
- Veröffentlichung
- 19. November 2003
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L23/544
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Infineon Technologies AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Infineon Technologies
Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.
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Karl, Frank
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