Test eines Algorithmus ausgeführt durch einen integrierten Schaltkreis
EP1365317
Art A1
26. November 2003
Anmelder: STMicroelectronics S.A. 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1365317
- Aktenzeichen
- EP03354045
- Anmeldetag
- 26. Mai 2003
- Veröffentlichung
- 26. November 2003
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F7/72
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- STMicroelectronics S.A.
- Land
- 🇫🇷 Frankreich
🇨🇭
STMicroelectronics International
Schweizer Gesellschaft des Halbleiterkonzerns STMicroelectronics, die Chips und Sensoren für Automobiltechnik, Industrie und Unterhaltungselektronik entwickelt.
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Vertreten von
de Beaumont, Michel
Grenoble, Frankreich
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