Systemerkennung zur Verbesserung der Kontrolle eines mikroelektrischen mechanischen Spiegels
EP1369732
Art A3
16. Februar 2005
Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1369732
- Aktenzeichen
- EP03101594
- Anmeldetag
- 2. Juni 2003
- Veröffentlichung
- 16. Februar 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B26/08
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Texas Instruments Incorporated
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Texas Instruments
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.
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Holt, Michael
Northampton, Großbritannien
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