System zur Messung von Aberrationen und Topometrie
EP1372463
Art B1
9. April 2008
Anmelder: Alcon, Inc. 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1372463
- Aktenzeichen
- EP03711096
- Anmeldetag
- 18. Februar 2003
- Veröffentlichung
- 9. April 2008
- Erteilung
- 9. April 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- A61B3/103A61B3/107
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Alcon, Inc.
- Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
Alcon
Schweizer Unternehmen der Augenheilkunde, das Produkte für Augenchirurgie, Kontaktlinsen und Pflegemittel entwickelt, darunter Linsenimplantate, chirurgische Geräte und Lösungen zur Augenpflege.
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