Struktur und Methode zur Bestimmung von Kanten von Regionen in Halbleiterscheiben
EP1374299
Art A2
2. Januar 2004
Anmelder: Infineon Technologies AG, Infineon Technologies North America Corp. 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1374299
- Aktenzeichen
- EP02717776
- Anmeldetag
- 5. April 2002
- Veröffentlichung
- 2. Januar 2004
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/66G03F7/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Infineon Technologies AG
Infineon Technologies North America Corp. - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Infineon Technologies
Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.
4.872 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kindermann, Peter
Baldham, Deutschland
362
Patente gesamt
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Weitere Vertreter
-
Kindermann, Peter, Dipl.-Ing
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