Vorrichtung und Verfahren zur Detektion von Rissen in Wabenstrukturmaterial
EP1380830
Art B1
28. Dezember 2005
Anmelder: NGK Insulators, Ltd., NGK INSULATORS, LTD. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1380830
- Aktenzeichen
- EP03254405
- Anmeldetag
- 11. Juli 2003
- Veröffentlichung
- 28. Dezember 2005
- Erteilung
- 28. Dezember 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N3/30B32B3/00G01N3/303
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- NGK Insulators, Ltd.
NGK INSULATORS, LTD. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NGK Insulators
Japanisches Industrieunternehmen mit Sitz in Nagoya. NGK Insulators fertigt Keramikprodukte, darunter Isolatoren, Abgaskatalysatorträger, Sensoren und Energiespeichersysteme für Energieversorgung, Automobil und Industrie.
3.021 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Paget, Hugh Charles Edward
London, Großbritannien
2.000
Patente gesamt
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Fachgebiete
19
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Schwerpunkte