System und Verfahren zur Messung der Schichtendicke einer Mehrschichtigen Röhre

EP1381826 Art B1 27. Mai 2015

Anmelder: Sciteq A/S, Force Technology, Sciteq-Hammel A/S 🇩🇰

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1381826
Aktenzeichen
EP02764048
Anmeldetag
22. April 2002
Veröffentlichung
27. Mai 2015
Erteilung
27. Mai 2015
Rechtsraum
EP
IPC
G01B15/02
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Sciteq A/S
Force Technology
Sciteq-Hammel A/S
Land
🇩🇰 Dänemark

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Siiger, Joergen Copenhagen V, Dänemark
45
Patente gesamt
17
Fachgebiete
8
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Medizintechnik & Gesundheit Straßen-, Wasser- & Tiefbau Nachrichtentechnik & Telekommunikation Elektrische Energietechnik
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