Ringoszillator sowie einen Ringoszillator verwendende Testverfahren und Testvorrichtung zur Überprüfung der Herstellung von Transistoren in einer Integrierten Schaltung
EP1394943
Art A3
12. Mai 2004
Anmelder: NEC Electronics Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1394943
- Aktenzeichen
- EP03019767
- Anmeldetag
- 29. August 2003
- Veröffentlichung
- 12. Mai 2004
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H03K3/03G01R31/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NEC Electronics Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NEC
Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.
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