Verfahren zur Prüfung und zur Identifizierung eines Messgerätes

EP1402229 Art B1 25. Juni 2014

Anmelder: 3D SCANNERS LTD, Krypton Electronic Engineering N.V. 🇬🇧

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1402229
Aktenzeichen: EP02727058
Anmeldetag: 24. April 2002
Veröffentlichung: 25. Juni 2014
Erteilung: 25. Juni 2014
Rechtsraum: EP
IPC: G01B11/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: 3D SCANNERS LTD
Krypton Electronic Engineering N.V.
Land: 🇬🇧 Großbritannien

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

Gyi, Jeffrey Ivan Sint-Martens-Latem, Belgien

105

Patente gesamt

24

Fachgebiete

15

Anmelder-Länder

Schwerpunkte

Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Verfahrens- & Trenntechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente Verpackungs- & Fördertechnik

Zum Anwaltsprofil

Weitere Vertreter

Brants, Johan P.E
NoneSint-Martens-Latem
Callewaert, Jean
NoneOverijse

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen