Verfahren und Apparatur zur Kontrolle eines Plattierungsprozesses
EP1402568
Art A2
31. März 2004
Anmelder: ADVANCED MICRO DEVICES, INC., Advanced Micro Devices Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1402568
- Aktenzeichen
- EP02744333
- Anmeldetag
- 12. Juni 2002
- Veröffentlichung
- 31. März 2004
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/288H01L21/66H01L21/768
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- ADVANCED MICRO DEVICES, INC.
Advanced Micro Devices Inc. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Advanced Micro Devices
US-amerikanischer Halbleiterhersteller (AMD) mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien, bekannt für Prozessoren, Grafikchips und Server-CPUs.
2.407 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Wright, Hugh Ronald
London, Großbritannien
229
Patente gesamt
19
Fachgebiete
8
Anmelder-Länder
Schwerpunkte