Apparat und Verfahren für das Optische Messen der Dicke
EP1405032
Art A1
7. April 2004
Anmelder: MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1405032
- Aktenzeichen
- EP02742335
- Anmeldetag
- 27. Juni 2002
- Veröffentlichung
- 7. April 2004
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/06G01B11/30
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Massachusetts Institute of Technology
US-amerikanische Universität mit Sitz in Cambridge, Massachusetts, eine der weltweit führenden Forschungseinrichtungen. Aktiv in nahezu allen technischen und naturwissenschaftlichen Feldern, darunter Informatik, Ingenieurwesen, Materialwissenschaften und Biotechnologie.
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Fachgebiete
Vertreten von
Kennedy, David Anthony
Glasgow, Großbritannien
91
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27
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8
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