Oberflächenformmessvorrichtung, Oberflächenformmessverfahren, Oberflächenzustand-Grafikvorrichtung

EP1422495 Art A1 26. Mai 2004

Anmelder: TOPCON CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1422495
Aktenzeichen: EP02751783
Anmeldetag: 30. Juli 2002
Veröffentlichung: 26. Mai 2004
Rechtsraum: EP
IPC: G01B11/24G06T1/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: TOPCON CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Topcon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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