Herstellungsverfahren für Gatterelektroden mit doppelter Austrittsarbeit unter Verwendung von dotiertem Polysilizium und einer Metall-Silizium-Germanium Verbindung

EP1422755 Art B1 16. Januar 2008

Anmelder: Texas Instruments Incorporated, TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1422755
Aktenzeichen
EP03104320
Anmeldetag
21. November 2003
Veröffentlichung
16. Januar 2008
Erteilung
16. Januar 2008
Rechtsraum
EP
IPC
H01L21/8238H01L27/092
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen
Texas Instruments Incorporated
TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Texas Instruments

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.

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