Umkonfigurierbares Mehrfachplattenspitzen- oder Proben-Scanning-Scanned-Probe-Mikroskop mit Transparenter Schnittstellenbildung für Optische Fernfeldmikroskope

EP1427983 Art A2 16. Juni 2004

Anmelder: Nanonics Imaging, Ltd., Lewis, Aaron 🇮🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1427983
Aktenzeichen
EP02763453
Anmeldetag
27. August 2002
Veröffentlichung
16. Juni 2004
Rechtsraum
EP
IPC
G01B5/28G01B7/34G12B21/22
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen
Nanonics Imaging, Ltd.
Lewis, Aaron
Land
🇮🇱 Israel

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