Erzeugung von Musterdaten, die von Jeglicher Überlappung oder Übermässiger Trennung von Punktmustern Nebeneinander Frei Sind

EP1429159 Art A1 16. Juni 2004

Anmelder: NLT Technologies, Ltd., NEC LCD Technologies, Ltd., NEC Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1429159
Aktenzeichen: EP02767890
Anmeldetag: 5. September 2002
Veröffentlichung: 16. Juni 2004
Rechtsraum: EP
IPC: G02B5/02G02F1/1335G02B5/08G03F1/08

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: NLT Technologies, Ltd.
NEC LCD Technologies, Ltd.
NEC Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

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Fachgebiete

Optik & Fototechnik

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